電子元件的發展歷史實際上是電子發展的簡史。電子技術是一種新技術,在二十世紀,它發展最快,使用最廣泛,它已成為現代科學技術發展的重要標志。為了促進電子信息技術的進一步發展,就要提高電子元器件的可靠性,因此掌握電子元器件失效分析的技術就變得十分必要。
首先看看什么是老化測試?在老化測試期間,特殊老化電路板上的組件會承受等于或高于其額定工作條件的壓力,以消除在額定壽命之前過早失效的任何組件。這些測試條件包括溫度、電壓/電流、操作頻率或任何其他被指定為上限的測試條件。這些類型的壓力測試有時被稱為加速壽命測試(HALT/HASS 的一個子集),因為它們模擬組件長時間在極端條件下的運行。
什么是UV測試?UV測試又稱UV老化測試,是模擬產品在現實使用條件中涉及到的各種因素對產品產生老化的情況進行相應條件加強實驗的過程,它可以再現陽光、雨水和露水所產生的破壞,短時間內得到產品的使用壽命。設備通過將待測材料曝露在經過控制的陽光和濕氣的交互循環中,同時提高溫度的方式來進行試驗。
無損檢測是利用物質的聲、光、磁和電等特性,在不損害或不影響被檢測對象使用性能的前提下,檢測被檢對象中是否存在缺陷或不均勻性,給出缺陷大小,位置,性質和數量等信息。隨著檢測要求的不斷提高,無損檢測技術已廣泛采用數字技術并已逐步進入測量領域,如對幾何量和材料特性參數的測量,有必要按照一定程序對儀器指標的持續穩定進行監視和控制,以提高檢測結果的可靠性。
IC芯片外觀檢測系統在IC集成芯片器件生產過程中,芯片的外觀質量檢測是其中一項必不可少的環節,包括芯片的引腳尺寸、殘缺、偏曲、間距不均、平整度差等檢測項目,而上述質量問題會直接影響電路產品的質量。外觀缺陷的自動檢測需要使用電子元件外觀檢測設備,那么,電子元器件的外觀瑕疵缺陷如何檢測呢?
低溫試驗主要用于評價在儲存、工作和拆裝操作期間,低溫條件對裝備的安全性、完整性和性能的影響。確定低溫試驗順序,需遵循兩個原則:最大限度地利用裝備的壽命期限和施加的環境應能最大限度地顯示疊加效應。
超聲波檢測也叫超聲檢測、超聲波探傷,是無損檢測的一種。無損檢測是在不損壞工件或原材料工作狀態的前提下,對被檢驗不見的表面和內部質量進行檢查的一種檢測手段。超聲波無損探傷(NDI)是超聲無損檢測的一種發展與應用,其設備有:超聲探傷儀、探頭、藕合劑及標準試塊等。其用途是檢測鑄件縮孔、氣泡、焊接裂紋、夾渣、未熔合、未焊透等缺陷及厚度測定。
開年首月至春節期間,市場部分ST、TI品牌物料到貨,加上淡季效應,缺貨勢頭略減。但從晶圓代工不斷漲價來看,缺貨基調沒有改變。此外,這期間兩筆業內大額并購以失敗畫上句號。由于壟斷爭議難以規避,外加缺芯大潮的敏感時局,這兩樁并購本來就難以通過,此番畫上句號,業內對它們的關注與爭議也可告一段落。
剛過完春節,市場重新鼎沸起來。Microchip最新傳出漲價通知,又將攪動MCU市場。與此同時,一直很低調的閃存也來“偷襲”,1月下旬傳出一起原材料污染事件,直接扭轉跌勢。下面就來具體看看這兩大市場的情況。
化學分析從大類分是指經典的重量分析和容量分析。重量分析是指根據試樣經過化學實驗反應后生成的產物的質量來計算式樣的化學組成,多數是指質量法。容量法是指根據試樣在反應中所需要消耗的標準試液的體積。容量法即可以測定式樣的主要成分,也可以測定試樣的次要成分。