目前,我國電子加工業發展迅速,同時,市場對電子產品的質量要求也越來越高。特別是在電路組裝方面,對檢測的方法和技術提出了更高的規范。元器件的檢測是一項必不可少的基礎性工作,必須根據不同的元器件采用不同的方法,從而判斷元器件的正常與否。那么電子元器件的好壞需要做哪些測試?下面一起來看看吧!
半導體器件的失效通常是因為產生的應力超過了它們的最大額定值。 電氣應力、熱應力、化學應力、輻射應力、機械應力及其他因素都會造 成器件失效。器件失效會存在于產品的整個生命周期,如果缺乏對各個階段失效信息及失效器件的收集,失效分析工作將失去必要的“物質”基礎。因此,開展失效分析,必須首先在開發、生產、工程等階段建立失效信息和失效器件的收集制度。下面帶來半導體元器件失效主要五個原因匯總解析!
隨著人們對產品質量和可靠性要求的不斷提高,失效分析工作也顯得越來越重要,近年開始從軍工向普通企業普及。它一般根據失效模式和現象,通過分析和驗證,模擬重現失效的現象,找出失效的原因,挖掘出失效的機理的活動。
X-Ray是利用陰極射線管產生高能量電子與金屬靶撞擊,在撞擊過程中,因電子突然減速,其損失的動能會以X-Ray形式放出。便于分析金屬材料及零部件、塑膠材料及零部件、電子元器件、電子組件、LED元件等內部的裂紋、異物的缺陷檢測,BGA、線路板等內部位移的分析;判別空焊,虛焊等BGA焊接缺陷,微電子系統和膠封元件,電纜,裝具,塑料件內部情況等等。仿冒品幾乎出現在每個行業,有關元件仿冒的問題普遍存在,并且已經滲透到整個電子元件供應鏈了,設備制造商們極需建立一個強大的防御體系。
電路故障是每個工程師都比較頭疼的事情,電子元器件在使用過程中,也會出現失效和故障,從而影響設備的正常工作。下面就來了解一下電子元器件的失效分析和故障原因。如果熟悉了元器件的故障類型,有時通過直覺就可迅速的找出故障元件,有時只要通過簡單的電阻、電壓測量即可找出故障。
二極管全稱為晶體二極管,是半導體器件的一種,又稱半導體二極管。晶體二極管的結構是一個由 p 型結節半導體和 n 型結節的半導體形成的 p-n 結結構組織,在其結節處的兩側形成各自的空間電荷層,并建有自建電場的等效。如果當不存在外加的電壓時候,由于 p-n結兩邊的載流子濃度差所引起的擴散電流和自建電場所引起的漂移電流相等而處于使得形成為電平衡的狀態。
PCB電路板是電子元件的基礎和高速公路,又稱印刷電路板,是電子元器件電氣連接的提供者。它的發展已有100多年的歷史了;它的設計主要是版圖設計;采用電路板的主要優點是大大減少布線和裝配的差錯,提高了自動化水平和生產勞動率。PCB的質量非常關鍵,要檢查PCB的質量,必須進行多項可靠性測試。這篇文章就是對測試的介紹,一起來看看吧。
一般來說,集成電路在研制、生產和使用過程中失效不可避免,隨著人們對產品質量和可靠性要求的不斷提高,失效分析工作也顯得越來越重要,通過芯片失效分析,可以幫助集成電路設計人員找到設計上的缺陷、工藝參數的不匹配或設計與操作中的不當等問題。芯片失效分析的常用方法不外乎那幾個流程,最重要的還是要借助于各種先進精確的電子儀器。以下內容主要從這兩個方面闡述,希望對大家有所幫助。
變壓器可以用萬用表進行檢測,如圖所示,一是檢測繞組線圈通斷,二是檢測繞組線圈之間的絕緣電阻,三是檢測繞組線圈與鐵芯之間的絕緣電阻。
失效分析是芯片測試重要環節,無論對于量產樣品還是設計環節亦或是客退品,失效分析可以幫助降低成本,縮短周期。 常見的失效分析方法有Decap,X-RAY,IV,EMMI,FIB,SEM,EDX,Probe,OM,RIE等,因為失效分析設備昂貴,大部分需求單位配不了或配不齊需要的設備,因此借用外力,使用對外開放的資源,來完成自己的分析也是一種很好的選擇。我們選擇去外面測試時需要準備的信息有哪些呢?下面為大家整理一下: