可靠性驗證
- 車載集成電路可靠性驗證
- · 車電零部件可靠性驗證(AEC) · 板階 (BLR) 車電可靠性驗證 · 車用系統(tǒng)/PCB可靠度驗證 · 可靠度板階恒加速試驗 · 間歇工作壽命試驗(IOL) · 可靠度外形尺寸試驗 · 可靠度共面性試驗
- 環(huán)境類試驗
- · 高低溫 · 恒溫恒濕 · 冷熱沖擊 · HALT試驗 · HASS試驗 · 快速溫變 · 溫度循環(huán) · UV紫外老化 · 氙燈老化 · 水冷測試 · 高空低氣壓 · 交變濕熱
- 機械類試驗
- · 拉力試驗 · 芯片強度試驗 · 高應(yīng)變率-振動試驗 · 低應(yīng)變率-板彎/彎曲試驗 · 高應(yīng)變率-機械沖擊試驗 · 芯片封裝完整性-封裝打線強度試驗 · 芯片封裝完整性-封裝體完整性測試 · 三綜合(溫度、濕度、振動) · 四綜合(溫度、濕度、振動、高度) · 自由跌落 · 紙箱抗壓
- 腐蝕類試驗
- · 氣體腐蝕 · 鹽霧 · 臭氧老化 · 耐試劑試驗
- IP防水/防塵試驗
- · IP防水等級(IP00~IP69K) · 冰水沖擊 · 浸水試驗 · JIS/TSC3000G/TSC0511G防水測試 · IP防塵等級(IP00~IP69)
HASS試驗(High Accelerated Stress Screen test)
描述:
HASS (High Accelerated Stress Screen)也稱高加速應(yīng)力篩選實驗,產(chǎn)品通過HALT試驗得出操作或破壞極限值后在生產(chǎn)線上做高加速應(yīng)力篩選,一般要求100%的產(chǎn)品參加篩選。其目的是為了使得生產(chǎn)的產(chǎn)品不存在任何隱含的缺陷或者至少在產(chǎn)品還沒有出廠前找到并解決這些缺陷,HASS就是通過加速應(yīng)力方式以期在短時間內(nèi)找到有缺陷的產(chǎn)品,縮短糾正措施的周期,并找到具有同樣問題的產(chǎn)品。
目的:HASS應(yīng)用于產(chǎn)品的生產(chǎn)階段,以確保所有在HALT中找到的改進措施能夠得已實施。HASS還能夠確保不會由于生產(chǎn)工藝和元器件的改動而引入新的缺陷。
應(yīng)用范圍:
電工電子產(chǎn)品、設(shè)備。進行預(yù)篩選,剔除可能發(fā)展為明顯缺陷的隱性缺陷;進行探測篩選,找出明顯缺陷;故障分析;改進措施。
試驗三階段:
1、HASS Development(HASS試驗計劃階段)
HASS試驗計劃必須參考前面HALT試驗所得到的結(jié)果。一般是將溫度及振動合并應(yīng)力中的高、低溫度的可操作界限縮小20%,而振動條件則以破壞界限G值的50%做為HASS試驗計劃的初始條件。然后再依據(jù)此條件開始執(zhí)行溫度及振動合并應(yīng)力測試,并觀察被測物是否有故障出現(xiàn)。如有故障出現(xiàn),須先判斷是因過大的環(huán)境應(yīng)力造成的,還是由被測物本身的質(zhì)量引起的。屬前者時應(yīng)再放寬溫度及振動應(yīng)力10%再進行測試,屬后者時表示目前測試條件有效。如無故障情況發(fā)生,則須再加嚴測試環(huán)境應(yīng)力10%再進行測試。
2、Proof-of-Screen(計劃驗證階段)
在建立HASS Profile(HASS 程序)時應(yīng)注意兩個原則:首先,須能檢測出可能造成設(shè)備故障的隱患;其次,經(jīng)試驗后不致造成設(shè)備損壞或"內(nèi)傷"。為了確保HASS試驗計劃階段所得到的結(jié)果符合上述兩個原則,必須準備3個試驗品,并在每個試品上制作一些未依標準工藝制造或組裝的缺陷,如零件浮插、空焊及組裝不當?shù)取R訦ASS試驗計劃階段所得到的條件測試各試驗品,并觀察各試品上的人造缺陷是否能被檢測出來,以決定是否加嚴或放寬測試條件,而能使HASS Profile達到預(yù)期效果。
在完成有效性測試后,應(yīng)再以新的試驗品,以調(diào)整過的條件測試30~50次,如皆未發(fā)生因應(yīng)力不當而被破壞的現(xiàn)象,此時即可判定HASS Profile通過計劃驗證階段測試,并可做為Production HASS之用。反之則須再檢討,調(diào)整測試條件以求獲得最佳的組合。
3、Production HASS(HASS執(zhí)行階段)
任何一個經(jīng)過Proof-of-Screen考驗過的HASS Profile皆被視為快速有效的質(zhì)量篩選利器,但仍須配合產(chǎn)品經(jīng)客戶使用后所回饋的異常再做適當?shù)恼{(diào)整。另外,當設(shè)計變更時,需要相應(yīng)修改測試條件。
HASS試驗設(shè)備圖片: