CNAS (China National AccreditationService for Conformity Assessment)是中國(guó)合格評(píng)定國(guó)家認(rèn)可委員會(huì)的簡(jiǎn)稱。它是根據(jù)《中華人民共和國(guó)認(rèn)證認(rèn)可條例》的規(guī)定,由國(guó)家認(rèn)證認(rèn)可監(jiān)督管理委員會(huì)批準(zhǔn)設(shè)立并授權(quán)的國(guó)家認(rèn)可機(jī)構(gòu),統(tǒng)一負(fù)責(zé)對(duì)認(rèn)證機(jī)構(gòu)、實(shí)驗(yàn)室和檢查機(jī)構(gòu)等相關(guān)機(jī)構(gòu)的認(rèn)可工作。CNAS實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可是對(duì)實(shí)驗(yàn)室有能力進(jìn)行規(guī)定類型的檢測(cè)和(或)校準(zhǔn)所給予的一種正式承認(rèn)。
Q:什么是認(rèn)可? A:認(rèn)可,是正式表明合格評(píng)定機(jī)構(gòu)具備實(shí)施特定合格評(píng)定工作能力的第三方證明。通俗地講,認(rèn)可是指認(rèn)可機(jī)構(gòu)按照相關(guān)國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)或國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),對(duì)從事認(rèn)證、檢測(cè)和檢驗(yàn)等活動(dòng)的合格評(píng)定機(jī)構(gòu)實(shí)施評(píng)審,證實(shí)其滿足相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求,進(jìn)一步證明其具有從事認(rèn)證、檢測(cè)和檢驗(yàn)等活動(dòng)的技術(shù)能力和管理能力,并頒發(fā)認(rèn)可證書(shū)。
元器件使用方的篩選要求一般由型號(hào)總體單位確定,元器件二次篩選是對(duì)一次篩選的補(bǔ)充,應(yīng)在一次篩選的項(xiàng)目和應(yīng)力基礎(chǔ)上,綜合考慮元器件的使用條件和應(yīng)用環(huán)境。由于各單位承擔(dān)任務(wù)不同,對(duì)產(chǎn)品的可靠性要求不同,故沒(méi)有一個(gè)統(tǒng)一的篩選規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)。
電子元器件是電子產(chǎn)品的組成部分,受電子元器件質(zhì)量的影響,電子產(chǎn)品的質(zhì)量與性能也會(huì)發(fā)生變化。從20世紀(jì)50年代開(kāi)始,國(guó)外就興起了可靠性技術(shù)研究,而國(guó)內(nèi)則是從改革開(kāi)放初期開(kāi)始發(fā)展。通過(guò)可靠性試驗(yàn),可以確定電子產(chǎn)品在各種環(huán)境條件下工作或存儲(chǔ)時(shí)的可靠性特征量,為使用、生產(chǎn)和設(shè)計(jì)提供有用的數(shù)據(jù);也可以暴露產(chǎn)品在設(shè)計(jì)、原材料和工藝流程等方面存在的問(wèn)題。通過(guò)失效分析、質(zhì)量控制等一系列反饋措施,可使產(chǎn)品存在的問(wèn)題逐步解決,提高產(chǎn)品可靠性
DPA檢測(cè)(破壞性物理分析)(Destructive Physical Analysis)是為了驗(yàn)證元器件的設(shè)計(jì)、結(jié)構(gòu)、材料和制造質(zhì)量是否滿足預(yù)定用途或有關(guān)規(guī)范的要求,按元器件的生產(chǎn)批次進(jìn)行抽樣,對(duì)樣品進(jìn)行解剖,以及解剖前后進(jìn)行一系列檢驗(yàn)和分析的全過(guò)程。它可以判定是否有可能產(chǎn)生危及使用并導(dǎo)致嚴(yán)重后果的元器件批質(zhì)量問(wèn)題。DPA技術(shù)廣泛使用與軍用及民用的電子元器件,在采購(gòu)檢驗(yàn)、進(jìn)貨驗(yàn)貨及生產(chǎn)過(guò)程中的質(zhì)量監(jiān)測(cè)等環(huán)節(jié)具有重要意義。
uv測(cè)試指的是什么?ultraviolet ray,縮寫(xiě)為:UV,中文翻譯為:紫外線,抗UV測(cè)試就是“抗紫外線老化測(cè)試”,紫外線會(huì)導(dǎo)致設(shè)備外殼老化,暴露在戶外的設(shè)備通常需要做。它主要是模仿自然界陽(yáng)光照射環(huán)境,再現(xiàn)陽(yáng)光、雨水和露珠所發(fā)生的損壞。設(shè)備通過(guò)將待測(cè)材料曝曬放在經(jīng)過(guò)控制的陽(yáng)光和濕氣的交互循環(huán)中,同時(shí)提高溫度的方式來(lái)進(jìn)行試驗(yàn)。用來(lái)評(píng)估材料在顏色變化、光澤、裂紋、起泡、催化、氧化等方面的變化。多用于非金屬材料的耐陽(yáng)光和人工光源的老化實(shí)驗(yàn)。這種方式是有效的,因?yàn)槎滩ㄗ贤饩€是造成戶外材料老化的最主
三綜合試驗(yàn)是指綜合溫度、濕度、振動(dòng)三個(gè)環(huán)境應(yīng)力的試驗(yàn)。本試驗(yàn)是用于考核產(chǎn)品在溫濕度和振動(dòng)三綜合的環(huán)境下運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。與單一因素作用相比,更能真實(shí)地反映電工電子產(chǎn)品在運(yùn)輸和實(shí)際使用過(guò)程中對(duì)溫濕度及振動(dòng)復(fù)合環(huán)境變化的適應(yīng)性,暴露產(chǎn)品的缺陷,是新產(chǎn)品研制、樣機(jī)試驗(yàn)、產(chǎn)品合格鑒定試驗(yàn)全過(guò)程必不可少的重要試驗(yàn)手段。還有沖擊和碰撞等,具體如何搭配測(cè)試根據(jù)客戶要求來(lái)定。
機(jī)械沖擊試驗(yàn)以模擬設(shè)備及其組件在運(yùn)輸或使用過(guò)程中,可能遭遇到?jīng)_擊效應(yīng)為主,并透過(guò)沖擊波于瞬間暫態(tài)能量交換,分析產(chǎn)品承受外界沖擊環(huán)境的能力。試驗(yàn)的目的在于了解其結(jié)構(gòu)弱點(diǎn)以及功能退化情況,有助于了解產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)強(qiáng)度以及外觀抗沖擊,跌落等特性。有效地評(píng)估產(chǎn)品的可靠性和監(jiān)控生產(chǎn)線產(chǎn)品的一致性。
- IC真?zhèn)螜z測(cè)
- DPA檢測(cè)
- 失效分析
- 開(kāi)發(fā)及功能驗(yàn)證
- 材料分析
- 可靠性驗(yàn)證
- 化學(xué)分析
- 外觀檢測(cè)
- X-Ray檢測(cè)
- 功能檢測(cè)
- SAT檢測(cè)
- 可焊性測(cè)試
- 開(kāi)蓋測(cè)試
- 丙酮測(cè)試
- 刮擦測(cè)試
- HCT測(cè)試
- 切片測(cè)試
- 電子顯微鏡分析
- 電特性測(cè)試
- FPGA開(kāi)發(fā)
- 單片機(jī)開(kāi)發(fā)
- 編程燒錄
- 掃描電鏡SEM
- 穿透電鏡TEM
- 高低溫試驗(yàn)
- 冷熱沖擊
- 快速溫變ESS
- 溫度循環(huán)
- ROHS檢測(cè)
- 無(wú)鉛測(cè)試