啊好涨用力哦太深了动态图_精品国产一二三区在线影院_91亚洲最新精品_国产精品国产三级国产普通话

芯片外觀檢測:半導體行業中視覺檢測系統的應用

日期:2021-09-27 13:27:51 瀏覽量:2291 標簽: 外觀檢測 芯片檢測

芯片,常常是計算機或其他電子設備的一部分。這些年工業科技的發展,機器視覺檢測系統正廣泛地應用于各個領域,從醫學界圖像到遙感圖像,從工業生產檢測到文件處理,從毫微米技術到多媒體數據庫等,需要人類視覺的場合幾乎都需要機器視覺檢測系統,特別在某些要求高或人類視覺無法感知的領域,如精確定量感知、危險現場感知、不可見物體感知等,機器視覺檢測系統的作用就顯得尤為重要了。

我國作為芯片消費大國,隨著市場需求的擴張、產業規模的升級,我國已出現了一批具備關較強國際競爭力的品牌。機器視覺在半導體行業的應用已非常普遍,應用范圍也越來越廣,涉及到半導體外觀缺陷、尺寸大小、數量、平整度、間隔、定位、校準、焊點質量、彎曲度等等的檢測和測量。怎么才能連續、高效、快速地對芯片的外觀進行檢測?

芯片外觀檢測:半導體行業中視覺檢測系統的應用

1、小型電子元器件及工業制品檢測

(1)電子元器件字符檢測

小型電子元器件及小尺寸工業制品的外觀檢測、SMD產品的外觀檢測、硅片外觀檢測中的應用。檢測內容有印字錯誤、內容錯誤、圖像錯誤、方向錯誤、漏印、表面缺陷,對被測物表面進行高速及自動拍照后,數據傳輸到計算機進行處理,找出有缺陷產品。

(2)裝配工藝檢測

檢測范圍:部件位置、尺寸、物體外沿、字符讀取及校驗、支腳、外觀等檢測。

二、IC芯片、電子鏈接器平整度檢測

檢測管腳個數以及管腳多個位置的幾何尺寸,包括pitch間隔、寬度、高度、彎曲度等等。

三、PCB板檢測

PCB板元件位置、焊點、線路、開孔尺寸、角度;電腦微通訊接口、sim卡插槽;電纜連接頭個數等等的檢測及測量。

以上便是此次創芯檢測帶來的“芯片外觀檢測”相關內容,通過本文,希望能對大家有所幫助。如果您喜歡本文,不妨持續關注我們網站,我們將于后期帶來更多精彩內容。如您有任何電子產品檢驗測試的相關需求,歡迎致電創芯檢測,我們將竭誠為您服務。

微信掃碼關注 CXOlab創芯在線檢測實驗室
相關閱讀
五月芯資訊回顧:原廠漲價函不斷,疫情影響供應鏈

剛剛過去的五月,全球多地疫情反彈,大宗商品漲價延續,IC產業鏈毫無意外,缺貨漲價仍是主旋律。下面就來梳理一下過去的一個月,業內都有哪些值得關注的熱點。

2021-06-04 11:16:00
查看詳情
馬來西亞管控延長,被動元件又懸了?

自五月以來,馬來西亞疫情不斷升溫,每日新增確診高峰曾突破9000例。嚴峻形勢之下,馬來西亞政府于6月1日開始執行為期半個月的全面行動管制。在這之后,每日新增病例呈現下降趨勢。

2021-06-18 15:41:07
查看詳情
內存市場翻轉,漲價來襲!

據媒體近日報道,內存正在重回漲價模式,從去年12月到今年1月,漲幅最多的品種已達30%。據行情網站數據,各類內存條、內存顆粒在12月上旬起開始漲價,至今仍沒有停止的意思。

2021-03-05 10:53:00
查看詳情
被動元件漲價啟動,MLCC和芯片打頭陣

據臺媒近日報道,MLCC兩大原廠三星電機和TDK近期對一線組裝廠客戶發出通知,強調高容MLCC供貨緊張,即將對其調漲報價。在芯片電阻市場,臺廠國巨正式宣布從三月起漲價15-25%。緊接著,華新科也對代理商發出漲價通知,新訂單將調漲10-15%。

2021-03-05 10:52:00
查看詳情
深圳福田海關查獲大批侵權電路板,共計超過39萬個

據海關總署微信平臺“海關發布”10日發布的消息,經品牌權利人確認,深圳海關所屬福田海關此前在貨運出口渠道查獲的一批共計391500個印刷電路板,侵犯了UL公司的“RU”商標專用權。

2021-03-05 11:12:00
查看詳情
可靠性測試:常規的可靠性項目及類型介紹

可靠性試驗是對產品進行可靠性調查、分析和評價的一種手段。試驗結果為故障分析、研究采取的糾正措施、判斷產品是否達到指標要求提供依據。根據可靠性統計試驗所采用的方法和目的,可靠性統計試驗可以分為可靠性驗證試驗和可靠性測定試驗。可靠性測定試驗是為測定可靠性特性或其量值而做的試驗,通常用來提供可靠性數據。可靠性驗證試驗是用來驗證設備的可靠性特征值是否符合其規定的可靠性要求的試驗,一般將可靠性鑒定和驗收試驗統稱為可靠性驗證試驗。

2021-04-26 16:17:00
查看詳情
產品進行可靠性測試的重要性及目的

產品在一定時間或條件下無故障地執行指定功能的能力或可能性。可通過可靠度、失效率還有平均無故障間隔等來評價產品的可靠性。而且這是一項重要的質量指標,只是定性描述就顯得不夠,必須使之數量化,這樣才能進行精確的描述和比較。

2021-04-26 16:19:00
查看詳情
匯總:半導體失效分析測試的詳細步驟

失效分析是芯片測試重要環節,無論對于量產樣品還是設計環節亦或是客退品,失效分析可以幫助降低成本,縮短周期。 常見的失效分析方法有Decap,X-RAY,IV,EMMI,FIB,SEM,EDX,Probe,OM,RIE等,因為失效分析設備昂貴,大部分需求單位配不了或配不齊需要的設備,因此借用外力,使用對外開放的資源,來完成自己的分析也是一種很好的選擇。我們選擇去外面測試時需要準備的信息有哪些呢?下面為大家整理一下:

2021-04-26 16:29:00
查看詳情
芯片常用失效分析手段和流程

一般來說,集成電路在研制、生產和使用過程中失效不可避免,隨著人們對產品質量和可靠性要求的不斷提高,失效分析工作也顯得越來越重要,通過芯片失效分析,可以幫助集成電路設計人員找到設計上的缺陷、工藝參數的不匹配或設計與操作中的不當等問題。芯片失效分析的常用方法不外乎那幾個流程,最重要的還是要借助于各種先進精確的電子儀器。以下內容主要從這兩個方面闡述,希望對大家有所幫助。

2021-04-26 16:41:00
查看詳情
值得借鑒!PCB板可靠性測試方法分享

PCB電路板是電子元件的基礎和高速公路,又稱印刷電路板,是電子元器件電氣連接的提供者。它的發展已有100多年的歷史了;它的設計主要是版圖設計;采用電路板的主要優點是大大減少布線和裝配的差錯,提高了自動化水平和生產勞動率。PCB的質量非常關鍵,要檢查PCB的質量,必須進行多項可靠性測試。這篇文章就是對測試的介紹,一起來看看吧。

2021-04-26 16:47:42
查看詳情