電子產(chǎn)品低溫測試: 元器件通常在低溫多久失效？
日期：2021-07-26 13:46:00 瀏覽量：5489 標簽: 低溫試驗 新產(chǎn)品開發(fā)測試（FT） 低溫測試 元器件失效
低溫測試介紹：
GB/T 2423.1-2008/IEC60068-2-1:2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫試驗
本標準所涉及的低溫試驗適用于非散熱和散熱里兩類試驗樣品.本標準僅限于用來考核確定電工,電子產(chǎn)品(包括元件,設(shè)備及其他產(chǎn)品)在低溫環(huán)境條件下貯存和使用的環(huán)境適應性。
元器件通常在低溫多久失效？電子元器件大都有個使用溫度范圍的，超過這個范圍就會失效或性能降低，一般民用級是0~70℃，工業(yè)級是：-40~85℃，軍用級是：-55~128℃。這是因為指常溫下導電性能介于導體與絕緣體之間的材料，溫度的改變對半導體的導電能力、極限電壓、極限電流以及開關(guān)特性等都有很大的影響。而現(xiàn)在一個芯片往往包含了數(shù)百萬甚至上千萬個晶體管以及其他元器件，每一點小小的偏差的累加可能造成半導體外部特性的巨大影響。如果溫度過低，往往會造成芯片在額定工作電壓下無法打開其內(nèi)部的半導體開關(guān)，導致其不能正常工作。
低溫試驗不能用來考核試驗樣品對溫度變化的耐抗性和在溫度變化期間的工作能力,在這種情況下,應選擇溫度變化試驗方法.
非散熱試驗樣品的低溫試驗:溫度突變和溫度漸變試驗2種類型;
散熱試驗樣品的低溫試驗: 溫度漸變試驗一種類型.
本試驗方法通常用于條件試驗期間能達到溫度穩(wěn)定的試驗樣品.試驗持續(xù)時間從試驗樣品溫度達到穩(wěn)定時開始計算.在特殊情況下,如果條件試驗期間試驗樣品達不到溫度穩(wěn)定,則試驗持續(xù)時間從試驗箱達到規(guī)定試驗溫度時開始計算。
低溫試驗條件：
非散熱試驗樣品溫度突變或溫度漸變的低溫試驗嚴酷等級的選擇:
65℃、55℃、40℃、25℃、10℃、-5℃、5℃
溫度范圍可以正負偏差3度,試驗的持續(xù)時間一般有:2h,16h,72h,96h.或根據(jù)產(chǎn)品自身的使用環(huán)境選擇試驗時間。若試驗目的僅僅是檢查試驗樣品在低溫時是否正常工作，則試驗的時間只限于使樣品溫度達到穩(wěn)定。
低溫測試濕度范圍：
電子產(chǎn)品一般是高溫高濕，溫度交變。低溫一般是做到-10℃高溫看產(chǎn)品60℃，80℃的都有。濕度一般是80的濕度。
低溫試驗設(shè)備：
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低溫試驗箱可以用來考核和確定電工、電子、汽車電器、材料等產(chǎn)品，在高低溫環(huán)境條件下貯存和使用的適應性，適用于學校，工廠，軍工，研位，等單位。
符合標準：低溫試驗設(shè)備滿足GB/T2423.1-2001 GB/T2423.2-2001等國家標準。
低溫試驗標準常規(guī)的檢測標準如下：
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫GB/T 2423.1-2008/IEC 60068-2-1:2007
包裝 運輸包裝件基本試驗 第2部分：溫濕度調(diào)節(jié)處理GB/T 4857.2－2005/ISO 2233:2000
汽車電氣設(shè)備基本技術(shù)條件QC/T 413-2002
軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分：低溫試驗 GJB 150.4A-2009
軍用通信設(shè)備通用規(guī)范 GJB 367A－2001
軍用電子測試設(shè)備通用規(guī)范 GJB3947A-2009
艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗 低溫試驗 GJB 4.3-1983
艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗 低溫貯存試驗 GJB 4.4-1983
軌道交通 機車車輛電子裝置 GB/T 25119-2010/IEC 60571：2006
電子測量儀器通用規(guī)范 GB/T 6587-2012
鐵路地面信號產(chǎn)品高溫及低溫試驗方法TB/T 2953-1999
