2024年3月1日上午,深圳創芯在線檢測技術有限公司(以下簡稱:創芯檢測)與中福國際公司(Zhongfu International)(以下簡稱:中福國際)于深圳創芯檢測中心成功舉辦了戰略合作簽約儀式。
近年來,5G通信和人工智能的興起,FPGA有了更大范圍的應用,創芯在線檢測實驗室也時常接到這方面的送測樣品。在進行了多個案例之后我們發現,如果客戶能夠在上機之前對FPGA進行功能測試,預先確認狀態是否正常,那么到后期就能大幅減少繁瑣的排障工作。今天我們就來介紹一個FPGA功能測試的案例,簡單幾步,就能確定器件是否處于正常狀態。
超聲波掃描顯微鏡,是繼上一篇提到的X射線檢測設備以外,另一種重要的無損檢測設備,它利用超聲波對微觀物體進行成像。
集成電路是當代科技的結晶,隨著工藝不斷更新迭代,集成電路的內部結構也在變得愈加復雜,隨之而來的就是一些不可避免的內部結構缺陷。這些缺陷可能在一般工況下并不影響集成電路的功能,但若處于高應力、高溫等苛刻條件下,這些缺陷就會導致功能失效,危及整個系統。那么,在元器件正式應用之前,通過無損檢測技術,預先檢查其內部結構,將風險杜絕在早期,就顯得至關重要。
10月30日,2023慕尼黑華南電子展(Electronica South China)在深圳會展中心(寶安新館)順利開幕。展會覆蓋全產業鏈主題版塊,承襲歷屆經典特色展區,展示來自全球各地創新型優質企業、技術及產品方案,吸引廣大產業界人士蒞臨現場。
電子元器件在存儲、使用前并未做好保護措施或者是未規范處理時就會有可能對芯片造成靜電損傷,可能會影響芯片的使用壽命或者是造成內部電路擊穿出現參數漂移等現象,嚴重的更會造成部分電路直接短路的情況。
電子元器件失效是指其功能完全或部分喪失、參數漂移,或間歇性出現上述情況。電子元器件分析是對已失效元器件進行的一種事后檢查。根據需要,使用電測試及必要的物理、金相和化學分析技術,驗證所報告的失效,確認其失效模式,找出失效機理。
近幾年,汽車領域發展的如火如荼 帶動了國產分立元器件需求的增長 汽車應用中的高壓MOS、IGBT等 元器件的測試需求也隨之日益增加 為了滿足廣大客戶朋友們對元器件的檢測需求 給客戶持續提供高效的檢測服務