半導體分立器件二極管的篩選測試項目
日期：2024-05-13 17:18:11 瀏覽量：490 標簽: 半導體
電子元器件的失效大多數是由于體內和表面的各種物理化學變化所引起，而不管是軍用產品還是民用產品，篩選都是保證可靠性的重要手段。本文將探討半導體分立器件二極管的篩選測試項目，旨在深入了解這些測試項目的重要性以及對產品性能的影響。通過精確的篩選測試，可以確保二極管的一致性和可靠性，為電子設備的正常運行提供穩定的基礎。
半導體分立器件二極管篩選測試標準
1.GJB128A-97半導體分立器件試驗方法
2.MIL-STD-750D 半導體分立器件試驗方法半導體分立器件二極管篩選測試項目
1.高溫儲存： 鍺管100℃、硅管150℃， 96h。
2.溫度循環： 鍺管-55℃- 85℃，5次; 硅管-55℃~ 125℃，5次。
3.敲變： 用硬橡膠錘敲3 ~ 5次，同時用圖示儀監視正向特性曲線。
4.跌落： 在8 0 c m高度，按自由落體到玻璃板上5 ～ 1 5次。
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5.功率老煉：
①開關管：1。5倍額定正向電流，12小時;
②穩壓管：1～1。5倍額定功率，12小時 ;
③檢波整流管：1～1。5倍額定電流，12小時;
④雙基極二極管：額定功率老煉12小時。
6.高溫反偏： 鍺管700C，硅管1250C ， 額定反向電壓2小時，漏電流不超過規范值。
7. 高溫測試： 鍺管70℃，硅管125℃。
8.低溫測試：－55℃。
9.外觀檢查： 用顯微鏡或放大鏡檢查外觀質量，剔除玻璃碎裂等有缺陷的管子。電子元器件篩選的目的1.保證元器件的可靠性，選出元器件內部構造品質好、各類焊點焊接質量好、封裝無分層等工藝質量好的元器件，
2.發現并剔除在制造、工藝和材料方面的缺陷和隱患
3.區分元器件和返修品、與仿制品、性能良品和次品;
4.暴露使用過程中可能出現的不安全因素，避免造成更大的損失。為什么選擇？1. 依據客戶產品規格，準確制定元器件的篩選方案和規程。
2. 依據篩選結果，準確定位元器件失效機理，并依據客戶需求給出元器件失效分析方案。
3. 軍用級檢測體系控制，保證測試流程和測試精度，第三方公正檢測機構。
4. 元器件一站式檢測服務：DPA檢測、AEC-Q100、AEC-Q200、失效分析等檢測能力。
5. 公司從2007成立實驗室以來，專注于元器件檢測研發、標準制定、設備升級、元器件數據分析和工藝改進、供應鏈管理等。
創芯檢測始終秉持“專業、權威、高效、創新”的宗旨，重金購置了國際先進檢測設備，檢測嚴格遵照國際檢測標準及方法，是經中國合格評定國家認可委員會（CNAS）認可和廣東省市場監督管理局（CMA）資質認定的檢測機構，所出具的檢測報告具有國際互認效力，可以在世界上58個國家的70個實驗室認可機構得到互認。歡迎致電，我們將竭誠為您服務！
