ESD失效分析報告:P6SMB36CA測試
日期:2021-08-18 14:28:20 瀏覽量:8436 作者:創芯在線檢測中心
產品名稱:ESD 抑制器
產品型號:P6SMB36CA
收樣日期:2021.08.04
分析時間:2021.08.04-2021.08.11
樣品數量編號:共收到 2pcs 樣品,良品編號為 G1 不良品編號為 F1
分析項目:外觀檢測、X-Ray 檢測、SAT 檢測
分析環境條件:常溫 25±5oC,濕度 30~65% RH
分析依據:GJB548B-2005 微電子器件實驗方法和程序 方法 5003 微電路失效分析程序
測試結果:
根據應用端描述與綜上測試結果分析 F1 可能是高溫焊接和封裝體受潮內部進入水汽而 引起失效。
A. 失效分析步驟
1 失效現象描述:
GE5 燈板上電測試時報 P 故障(故障提示燈閃爍),測試 P-SW1,P-SW2 位置開關后,發現 P-SW2 的輸 入電壓異常:2.2V (正常 3.5V)。
2 分析過程:
2.1、外觀檢測:
外觀檢測 2 片(G1&F1)樣品,發現 G1&F1 表面絲印不一致,未發現樣品表面有破損等異常現象。
2.2、X-Ray 檢測:
X-Ray 檢測 2 片(G1&F1)樣品,發現 G1&F1 的內部結構不一致。
2.3、SAT 檢測:
SAT 檢測 2 片(G1&F1)樣品,發現 F1 的 Paddle 表面與塑封料之間有分層,F1 的 T-scan 有異常現象; G1 未發現分層空洞等異常現象。
3. 綜合分析及結果:
測試結果:
外觀檢測 2 片(G1&F1)樣品,發現 G1&F1 表面絲印不一致,未發現樣品表面有破損等異常現象。 X-Ray 檢測 2 片(G1&F1)樣品,發現 G1&F1 的內部結構不一致。 SAT 檢測 2 片(G1&F1)樣品,發現 F1 的 Paddle 表面與塑封料之間有分層,F1 的 T-scan 有異常現象。 G1 未發現分層空洞等異常現象。
分析結論
根據應用端描述與綜上測試結果分析 F1 可能是高溫焊接和封裝體受潮內部進入水汽而引起失效。
改善措施;
1.優化產品的使用環境, 注意高溫高濕條件的應用;
2. 優化產品的封裝可靠性;