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集成電路 NCV57101DWR2G 失效分析報告

日期：2024-11-04 16:34:16 瀏覽量：388 作者：創芯在線檢測中心

綜上分析推測失效品因EOS/ESD導致die內部金屬層和絕緣層區域出現擊穿燒毀痕跡，從而引起短路失效。