為了使更多客戶了解異常物料信息,創芯檢測對外發布元器件異常品質分析報告,希望能幫助您預警風險,確保安心購物,避免購買不合格器件。 本次對外公布為2024年10月實驗室所攔截的高風險及高危物料。
為了使更多客戶了解異常物料信息,創芯檢測對外發布元器件異常品質分析報告,希望能幫助您預警風險,確保安心購物,避免購買不合格器件。 本次對外公布為2024年9月實驗室所攔截的高風險及高危物料。
為了使更多客戶了解異常物料信息,創芯檢測對外發布元器件異常品質分析報告,希望能幫助您預警風險,確保安心購物,避免購買不合格器件。 本次對外公布為2024年8月實驗室所攔截的高風險及高危物料。
為了使更多客戶了解異常物料信息,創芯檢測對外發布元器件異常品質分析報告,希望能幫助您預警風險,確保安心購物,避免購買不合格器件。 本次對外公布為2024年7月實驗室所攔截的高風險及高危物料。
當前,隨著技術的不斷進步,芯片制造領域的欺詐手段也在不斷演進,層出不窮。這些手段不僅直接損害制造商及終端消費者的切身利益,還對整個電子產業鏈的生態平衡與可持續發展構成潛在威脅。
近期,市場上未取得機構資質認定,偽造、篡改檢測報告行為層出不窮。對于檢測機構而言,檢測報告一旦被偽造,將會造成惡劣影響,嚴重損害企業聲譽及形象。為加大監管力度,凈化檢測市場環境,充分發揮典型案例警示作用。創芯在線檢測以例為鑒,教您如何辨別檢測報告真偽。
為了使更多客戶了解異常物料信息,創芯檢測對外發布元器件異常品質分析報告,希望能幫助您預警風險,確保安心購物,避免購買不合格器件。 本次對外公布為2024年6月實驗室所攔截的高風險及高危物料。
隨著科技的進步和應用范圍的不斷擴大,人們對于電子元器件的質量和可靠性要求也越來越高,因為電子元器件的低溫失效會嚴重影響產品的穩定性和壽命。今天我們就來詳細了解一下低溫對電子元器件的影響及其失效原因。
芯片測試是在集成電路(芯片)制造過程中非常關鍵的一步,旨在確保芯片符合設計規格并且能夠正常工作。以下是一些常見的芯片測試方法和流程
為了使更多客戶了解異常物料信息,創芯檢測對外發布元器件異常品質分析報告,希望能幫助您預警風險,確保安心購物,避免購買不合格器件。 本次對外公布為2024年5月實驗室所攔截的高風險及高危物料。